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光热红外检测法 无损无接触涂层测厚仪在锂电行业的应用

发布时间:2022-08-28 22:08:38 来源:火狐体育网页版 作者:火狐体育苹果娱乐

  相较于目前工业上常用的无损测厚仪如磁性测厚计; 磁/电磁感应测厚仪;涡流测厚仪;超声波测厚仪,光热红外法的涂层测厚仪的测量精确要高的多,精度甚至在亚微米范围内,同时也满足工业市场防爆要求。

  原因为光热红外法是利用光源照射物体表面,通过对激励光源进行强度调制,在材料中产生热波,光源激发的热量通过热波在涂层中向深处传播,这一热波在涂层与基材的边界处反射并最终传播出涂层以红外热辐射的形式被探测器接收。涂层越厚,该过程花费的时间越长。因此利用红外探测器探测红外热辐射(相移)的信号就可以获得涂层的厚度信息。由于表征涂层厚度(或其他参数)的不是信号幅度而是信号相位,即辐射热波相对于激发光波的时间偏移,因此这种测量方式对测量距离或探测角度的变化不敏感。这样,可以非常高精度地测量涂层厚度和面密度。

  该套使用光热红外检测法的无损无接触涂层测厚仪设备,已由制造商德国AIM Systems 现授权上海津镭光电科技有限公司负责代理。

  无损无接触涂层测厚仪不仅可以用于极片涂层的检测,亦可以用于软包或者隔膜的涂层检测:

  1.一机多功能:既可直接测量涂层厚度,也可直接测量面密度,也可同时测量厚度和面密度既可用于产线亦可用于实验室测量

  2.范围广精度高:可以广泛使用于各种材料的涂层测厚,甚至于可测量透明材料上的透明涂层厚度同类技术中最高精度

  3.测量稳定:抗干扰能力强,不受振动、距离和测量角度的影响直接测量涂层的厚度和面密度,测值不受箔材厚度,粗糙度的影响,无须同步对点对机械稳定性和减震没有特殊要求

  4.灵活方便:对同样的基材和涂层材料组合只需进行一次校准,无须对距离进行校准校准信息可以转移到别的设备上或者使用在别的测量位置在软件中可自动合并同不同阶段的测量数值

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